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產(chan)品詳細頁
X射線分析顯微鏡
- 產(chan)品型號：XGT-7200
- 更(geng)新時間：2023-03-19
- 產品介(jie)紹：一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開創了科學分析的新時代。它將光學圖像與元素分析*地結合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD檢測器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計數率的測量，且無需液氮。 雙真空式設計確保用戶可以在幾秒鐘內完成樣品室內部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測量含水樣品、生物樣品時也可以保證測量所有元素的高靈敏
- 在線留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339
產品介紹
XGT-7200技術參數
測量元素：Na~U
X射線管：銠(lao)（Rh）靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA
X射線熒光檢測器：SDD硅漂移檢測器
透過X射線檢測器：NaI（Ti）晶體
X射線導管：單毛細管 10μm / 100μm 無濾光片(pian)
光學圖像：樣品(pin)整體光學像及共軸(zhou)放大圖像
樣品臺尺寸：XY：100mm×100mm
樣品倉：全真空模式(shi)/ zui大真空 300mm×300mm×80mm
信號處理：數(shu)值脈沖處理(li)(li)器（INCA處理(li)(li)器 ）
定性分析：自(zi)動(dong)定(ding)義譜峰(feng)/ KLM線標注/ 譜峰(feng)查(cha)找/ 譜峰(feng)匹配(pei)
定量分析：無標(biao)樣基(ji)(ji)本(ben)參(can)(can)數法(fa)/ 標(biao)準無標(biao)樣基(ji)(ji)本(ben)參(can)(can)數法(fa)/ 標(biao)準文件(jian)匹配基(ji)(ji)本(ben)參(can)(can)數法(fa)/ 校正曲線(xian)/ 多層膜基(ji)(ji)本(ben)參(can)(can)數法(fa)/ 多點分析（zui多5000）/ 多點結(jie)果輸出至Excel®
面掃描功能：透(tou)過(guo)X射線(xian)像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩(ju)形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合(he)成/ 標尺/ 線(xian)分析
其它功能：可同時開啟(qi)XGT-5200操作軟件(jian)
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