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王子計測超高位相差測定裝置
- 產品型號(hao)：PAM-UHR100
- 更新時間：2023-03-20
- 產品(pin)介紹：王子計測超高位相差測定裝置PAM-UHR100特點①1nm寬測量范圍②高重復精度±1nm③良好的可操作性④軟件
- 在線留言 86-21-54933058/54933060/54933358/54182486/28097339
產品介紹
王子計測超高位相差測定(ding)裝置(zhi)
PAM-UHR100
特(te)點
① 1nm寬測量(liang)范(fan)圍
② 高重復精(jing)度(du)±1nm
③ 良好的可操作性
④ 軟件
測定對象：
位相(xiang)差薄膜，塑料，偏振片
光盤
液晶組件
磁帶用膠片
收(shou)縮(suo)薄膜(mo)
其他(ta)一(yi)般用途膠片(pian)
用途：
光學(xue)功能(neng)膠片的研究開發，質量管理
延伸(shen)膠片的定(ding)向評價(三(san)維折射率(lv)，表面定(ding)向度)
包裝(zhuang)膜的熱收縮(suo)、撕(si)脫(tuo)性(xing)等(deng)的評價
液晶元件的雙(shuang)絞線波(bo)長(chang)色散特性評估
光(guang)學器件(jian)的(de)透射橢圓(yuan)偏(pian)振光(guang)的(de)評價
王子計測PAM-UHR100超高位相差(cha)測定裝置
技術參(can)數
仕(shi)様(yang) | 內(nei)容 |
測定対象 | 透明な延伸(shen)フィルム（ＰＣ，ＰＥＴ等(deng)） |
測定項目(mu) | 位(wei)相差、配向角(jiao)、複屈折 （位(wei)相差範(fan)囲 約８００～２００００ｎｍ） |
試料寸法 | □４０ｍｍ 厚(hou)み３ｍｍ以下(xia) |
システム構成 | 測(ce)定(ding)裝置本(ben)體(ti)、ノートパソコン（OS：Windows 7 / Vista / XP） |
溫濕度(du)條件 | 10～35℃、20～80％ＲＨ（ただし結露しないこと） |
電源 | AC100V±10％、50／60Hz |